半导体前道检测
盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司专注生产研发半导体量检设备,设备可为4寸5寸6寸8寸12寸晶圆检测.产品包含,晶圆膜厚测量仪、晶圆元素浓度测量机台等设备.为半导体前道检测应用场景提供了可以替换进口的国产化解决方案.联系电话400-026-0880.
优尼康科技有限公司
优尼康科技有限公司是一家专业提供主动减震,主动式减震台,Profilm3D光学轮廓仪,Filmetrics膜厚测量仪,薄膜厚度测量仪,粗糙度测量,轮廓测量等产品的膜厚测量仪厂家.膜厚测量仪厂家咨询热线:400-186-8882
冷CCD
先锋科技(香港)股份有限公司是上等的亮度计,工业相机,膜厚测量仪供应商,主要经营产品有:亮度计,工业相机,膜厚测量仪,积分球,薄膜测厚仪,X射线管,平板探测器,光电传感器,红外探测器,X射线探测器,光电倍增管,冷CCD,光电探测器,光谱辐射度计,光电二极管等!