搜索 " 芯片失效分析 " 相关网站 3 条,显示最新 30 条
网站提交
芯片FIB线路修改、芯片拍照去层、芯片失效分析、数据提取、FIB、FIBG改线、网表提取整理、电路故障分析、芯片开盖、芯片绑定、芯片精密飞线、晶圆倒装、探针台测试、FIB设备、FIB耗材、FIB维护
科技创新
博仕检测是一家由留美博士创建的实验室,提供半导体芯片失效分析、电子元器件失效原因分析等检测服务,设备先进,服务产业广泛,已服务客户1000多家,行业认可度高。
商业服务
超声波扫描显微镜,是半导体后封装失效分析的一个强有力工具,这里是老牌德国KSI超声波扫描显微镜的中国区服务和销售中心。它主要针对电子器件和集成电路的失效分析、芯片失效分析。超声波扫描显微镜,还对电力半导体模块的大功率器件的键合层作失效分析。现在还被用来作检测复合材料内部结构缺陷的失效分析。