半导体晶圆中道及后道自动化光学(AOI)缺陷检测设备系统解决方案提供商

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博海拥有一支由来自海外半导体设备专家业博士组成的研发团队专业从事晶圆缺陷检测设备,IGBT模块AOI检测设备,裸晶圆缺陷检测设备为半导体中道,后道工艺及先进封装领域提供芯片行业领先质量控制解决方案.涵盖AI赋能的2D/3D机器视觉检测设备,在算法,光学以及自动化控制积累了20余年经验.适用于Wafer、IC、IGBT、SiC、IPM、SiP、FC、COB、CIS、LED和混合电路等领域,并已服务了上百家全球知名半导体IDM厂和封装厂。

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